오랩스(주)의 SAM 시스템은 반도체 웨이퍼, 전력 반도체, 전기/전자 부품, 차량용 이차 전지, 복합 소재, Glass PCB, 세라믹 등 다양한 소재와 부품을 정밀하게 검사합니다.
샘플 내부의 미세 결함을 비파괴적으로 탐지하여 문제를 조기에 발견하고 품질 불량으로 인한 비용 손실을 효과적으로 줄일 수 있습니다.
이러한 강점으로 반도체 제조, 전자부품 신뢰성 평가, 에너지 산업, 자동차 및 항공 산업 등 고품질과 높은 신뢰성이 요구되는 분야에서 큰 가치를 발휘하고 있습니다.