Dual FSAM
위·아래·투과, 세 가지 데이터를 동시에 얻다.
주요 특징
두꺼운 샘플의 양면을 동시에 검사하는 초음파 비파괴 검사 장비
DUAL FSAM은 오랩스㈜가 독자적으로 개발한 고속 스캐닝 모듈을 기반으로, 업계 최초로 양면 동시 초음파 검사를 구현한 장비입니다.
양면 동시 스캔 구조
윗면과 아랫면을 동시에 스캔하여
한 번의 작업으로 완전한 분석 수행
3중 데이터 수집
한 번의 검사로 윗면, 아랫면, 투과
데이터를 동시에 획득
두꺼운 샘플 대응성
전력반도체, 세라믹, 복합소재 등
고두께 샘플에서도 정밀 영상 구현
검사 시간 혁신적 단축
기존 대비 검사 시간을 대폭 단축해
생산성 극대화
속도·투과력·정밀의 새 기준
검사 효율과 해상도 모두 향상시킨
차세대 초음파 솔루션
비디오
적용 샘플 & 스캐닝 이미지
기술 사양
| 기술 사양 | |
|---|---|
| 항목 | Dual FSAM |
| Scanning range | 76 (X) x 70 (Y) mm |
| Scanning velocity | 20fps |
| Step size | 10 ~ 200 µm |
| Frequency range | 5 ~ 200 MHz |
| Number of channels | 8 |
| Digitizer | PCle 16bits 1GSPS |
| Size | 840 (W) x 740 (D) x 300 (H) mm |
| Weight | 100 kg |
※ 모든 사양은 커스터마이징 가능합니다.