초음파로 여는 비파괴 검사 기술의 새 기준
SAM (Scanning Acoustic Microscopy)은 초음파를 활용해 소재 내부를 고해상도로 검사할 수 있는 첨단 비파괴 초음파 검사 장비입니다.
오랩스㈜의 독자 기술을 바탕으로 반도체, 전자 패키징, 신소재 등 다양한 산업 분야에서 내부 결함과 구조를 μm단위의 고해상도로 분석할 수 있습니다.
또한 광학 검사나 X-ray로는 한계가 있는 영역에서도 선명한 결과를 제공하여, 연구개발부터 생산 품질 관리까지 폭넓게 활용될 수 있습니다.
